透射电镜实验透射电子显微镜

简要描述：

透射电镜实验（Transmission Electron Microscope,简称TEM）,可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。目前TEM的分辨力可达0.2nm。

更新时间：2023-10-30

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产品介绍

实验原理透射电镜实验是以电子束透过样品经过聚焦与放大后所产生的物像，投射到荧光屏上或照相底片上进行观察。电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。由于电子易散射或被物体吸收，故穿透力低，制备超薄切片(通常为50～100 nm)。要在机体死亡后的数分钟内取材，组织块要小(1mm3以内)，常用戊二醛和锇酸双重固定，包埋介质包埋,用超薄切片机切成薄片，再经醋酸铀和柠檬酸铅等进行电子染色。

透射电镜实验实验流程1.取材2.固定3.脱水4.包埋5.固化6.超薄切片机切片(50-60 nm)7.3%醋酸铀-枸橼酸铅双染色8.透射电镜观察，拍片

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